粒度測試儀的快速發(fā)展，離不開它*的原理 科學技術的發(fā)展讓儀器類別更為細化，而生活生產中產生的各種需求也在不斷推動科學儀器更進一步發(fā)展。近些年，我國各行各業(yè)對粒度測試儀的需求明顯增加，粒度測試儀行業(yè)發(fā)展提供了巨大的空間，而技術的又使得粒度測試儀能適用于更多的領域。面對不斷擴展的粒度測試儀市場格局，我國的儀器企業(yè)迎來了迎來了重要的發(fā)展機遇。
粒度測試儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現象。
米氏散射理論表明，當光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發(fā)生散射現象，散射光的傳播方向將與主光束的傳播方向形成一個夾角θ，θ角的大小與顆粒的大小有關，顆粒越大，產生的散射光的θ角就越小;顆粒越小，產生的散射光的θ角就越大。即小角度(θ)的散射光是有大顆粒引起的，大角度(θ1)的散射光是由小顆粒引起的。進一步研究表明，散射光的強度代表該粒徑顆粒的數量。這樣，測量不同角度上的散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。
為了測量不同角度上的散射光的光強，需要運用光學手段對散射光進行處理。我們在光束中的適當的位置上放置一個富氏透鏡，在該富氏透鏡的后焦平面上放置一組多元光電探測器，不同角度的散射光通過富氏透鏡照射到多元光電探測器上時，光信號將被轉換成電信號并傳輸到電腦中，通過軟件對這些信號進行處理，就會地得到粒度分布了。
