納米粒度分析儀

簡要描述：

Nanolink S901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析系統(tǒng)，采用動態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進(jìn)行納米粒度測量，被廣泛應(yīng)用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測和分析。

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詳細(xì)介紹

Nanolink S901的性能和主要特點包括：

◆ 經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

◆ 加持自動恒溫技術(shù)的功率可達(dá)50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用

◆ 激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)

◆ 信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)

◆ 集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)-15°C~120°C,精度±0.1°C

◆ 新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動態(tài)范圍大于1011

◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術(shù)

技術(shù)指標(biāo)：

測量原理	動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測量角度	90°，12°（Zeta電位）
粒徑測量范圍	0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量	3ul*
粒徑測量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測量最大樣品濃度	40%/wv**
檢測點位置	距入射點0~5mm可調(diào)
檢測點定位精度	0.01mm
Zeta電位測量技術(shù)	余弦擬合位相分析法（CF-PALS）
Zeta電位測量范圍	無實際限制
適用Zeta電位測量的粒徑	1nm - 120μm*
遷移率范圍	最小0，最大無實際限制
最大電導(dǎo)率	270mS/cm
電極	插入式平板電極、U型毛細(xì)管電極
分子量范圍	340Da - 2x10⁷Da
其它高級測量/計算功能	介質(zhì)粘度、折光率、樣品透過率/濃度、第二維利系數(shù)、顆粒間相互作用力系數(shù)和聚集度指數(shù)
光源	集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器
光強度調(diào)整范圍	自動調(diào)節(jié)，0.0001%～100%
相關(guān)器	高速數(shù)字相關(guān)器，自適應(yīng)通道配置
檢測器	高靈敏度APD
溫度控制范圍	-15°C ~ 120°C
溫度控制精度	±0.1°C
進(jìn)樣方式	手動/自動
樣品池（選配）	12mm比色皿、3μL毛細(xì)管超微量樣品池、40μL微量樣品池
環(huán)境要求	5-40℃，10%-80%相對濕度（無凝結(jié)）
工作電源	AC100V-240V，標(biāo)準(zhǔn)接地，直流電源供電24V/5A
系統(tǒng)重量	20kg
外形尺寸	430mm x 512mm x 230mm (LxWxH)

注：* 取決于樣品及樣品池選件 ** 取決于測量角度

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